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  • BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm)

    BeamOn VIS-NIR 光束質量分析儀 ( 350-1310nm) 產(chǎn)品總覽 BeamOn 是光束診斷測量系統(tǒng)，用于實時測量連續(xù)或脈沖激光光束，可測量激光光束參數(shù)，包括強度輪廓、光束寬度、形狀、位置、功率。軟件還具有報告功能，用于光束分析設置和給出結果。

    更新時間：2025-01-16
    產(chǎn)品型號：
    瀏覽量：2023
  • 400-1700nm 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀

    400-1700nm 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀 量子點短波紅外相機型光束質量分析儀，超高速USB 3.0，400-2000nm，采用量子點傳感器，對1550nm或2000nm處進行優(yōu)化，多種有效面積可供選擇，z高可至1920 x 1080，15×15 μm像素點，14位A/D轉換，是連續(xù)和脈沖短波紅外激光光束分析的理想工具。

    更新時間：2026-05-08
    產(chǎn)品型號：
    瀏覽量：2362
  • BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm

    BladeCam2-HR-TEL CMOS基礎型光斑分析儀相機 1480-1605nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產(chǎn)品型號：
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  • BladeCam2-HR-1310CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm

    BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1350nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產(chǎn)品型號：BladeCam2-HR-1310
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  • BeamOn U3-EBladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm

    BladeCam2-HR-ND4 CMOS基礎型光斑分析儀相機 355-1150nm 產(chǎn)品應用 連續(xù)激光的光束分析 激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試 光學組裝和儀器校準 光束漂移和記錄 使用 M2DU 平臺測量 M²

    更新時間：2024-12-08
    產(chǎn)品型號：BeamOn U3-E
    瀏覽量：1749
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