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P760/01_2760nm單模垂直腔面發射激光器
RFLDM-RF射頻激光二極管驅動(控制/電源)
ZNSP25.4-1IR拋光硫化鋅(ZnS)多光譜(透明)窗片 0.37-13.5um 25.4X1.0mm(晶體/棱鏡
2x4 QPSK C波段相干混頻器(信號解調/鎖相放大器等)
截止波長1300nm 高摻雜EDF摻鉺光纖
Frequad-W-CW DUV 單頻連續激光器 213nm 10mW Frequad-W
GD5210Y-2-2-TO46905nm 硅雪崩光電二極管 400-1100nm
SNA-4-FC-UPC日本精工法蘭FC/UPC(連接器/光纖束/光纜)
WISTSense Point 緊湊型高精度光纖傳感器解調儀(信號解調/鎖相放大器等)
CO2激光光譜分析儀
超高功率光束質量分析儀
350-2000nm 1倍紅外觀察鏡
1030nm超短脈沖種子激光器PS-PSL-1030
干涉型單模微納光纖傳感器 1270-2000nm
高能激光光譜光束組合的光柵 (色散勻化片)
S+C+L波段 160nm可調諧帶通濾波器
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產品分類1460-1600nm 便攜式紅外高功率激光顯示卡(感應卡) 適合網絡工程師的 便攜式紅外激光探測器 即時激光安全測試以確認 高功率紅外激光器已關閉
更新時間:2026-04-27
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SK4096MVHW 單色線掃描相機 (光譜200-1000nm 4096像素CMOS傳感器 線頻率2.38 kHz 接口GigE Vision)(機器視覺) 單色SK4096MVHW線掃描相機配備4096像素CMOS傳感器。zui高行頻為2.38 kHz。
更新時間:2026-04-24
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2000nm近紅外物鏡(相機) 在1000-2000nm附近具有高透射率的物鏡。用于半導體器件故障分析,以檢測漏電流發出的極微弱發射。當紅外光從芯片背面穿過硅時,可以很好地觀察到高度集成和多層布線的半導體。 注:硅校正鏡片也可提供。
更新時間:2026-01-13
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h.n·u· TDI(相機) 時間延遲積分(TDI)原理:這是一種基于累積曝光概念的讀出模式,攝像機同步將電荷從一行轉移到下一行,速度與物體在檢測器下方的運動速度相同,從而實現對同一物體的多次曝光積累。為高靈敏度時間延遲積分模式(TDI),低光成像的新標準,NÜVÜ™ TDI攝像機優化用于要求苛刻的掃描應用。
更新時間:2026-01-13
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標準長工作距離平場(相機/鏡頭) 本系列為半復消色差設計,兼顧了長工作距離與緊湊的結構設計,齊焦距離統一為 45mm,適用于標準工業顯微檢測系統。
更新時間:2026-06-02
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